FPD/LSI检查显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N

简要描述：FPD/LSI检查显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N，这一系列半导体显微镜是检测集成电路（IC）、平板显示器（FPD）、大规模集成（LSI）电子设备和许多其他应用的理想选择。

产品分类

详细介绍

FPD/LSI检查显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N用于检查大型样品的高级显微镜

采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机。


尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D) 用于硅片（L200N系列为200mm，L300N系列为300mm）、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。	尼康CFI60-2光学系列尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。

尼康Digital Sight数码相机尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。	L200N与NWL200联合使用在半导体行业中得到广泛认可和信任，目前有许多装置在使用。