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FPD/LSI检查显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N，这一系列半导体显微镜是检测集成电路（IC）、平板显示器（FPD）、大规模集成（LSI）电子设备和许多其他应用的理想选择。
工业显微镜 ECLIPSE LV150NA和LV150N （纯反射型），这一系列半导体显微镜采用纯反射照明，支持的镜检方式有：明场、暗场、微分干涉、偏光、荧光、双光束干涉，可搭载数码相机，常用于半导体、集成电路及其它各种材料的检查。
工业显微镜ECLIPSE LV100NDA和LV100ND，同时配有反射照明和透射照明，有多种镜检方式可选，可搭配数码相机，并有多种附件可选，可应对多种工业品、工业材料的检查与研究需求。
科研用倒置金相显微镜 ECLIPSE MA200，采用创新的箱体型外观、模块化设计、反射照明的研究用倒置金相显微镜，支持多种镜检方式，可搭配数码相机，广泛应用于材料研究。
常规检查用倒置金相显微镜ECLIPSE MA100N，这是一款结构紧凑、操作简便灵活、且性价比很高的常规金相检查用倒置显微镜，它采用反射照明，可搭配数码相机，广泛应用于金相组织的检测。
偏光显微镜ECLIPSE LV100N POL和Ci-POL，这一系列的偏光显微镜通过观察图像对比度和颜色变化，来观察各向异性样本的双折射特性。尼康为定量和定性研究提供各种系统。
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