尼康晶圆,功能齐全的NWL200机型支持通过光学显微镜或图像测量仪(如Nikon NEXIV),对直径为6英寸(150mm)和8英寸(200mm)的半导体晶圆的创新设计和材料进行检测。
科研用高级体视显微镜 SMZ25和SMZ18,在全倍率范围内,都能获取高品质光学成像,数码相机也可以充分发挥威力。
高级体视显微镜 SMZ1270i和SMZ1270超过了微小物体特征的标准成像要求。特别适用于材料科学、工业制造应用和在线过程控制功能。
高级体视显微镜 SMZ800N,通过将放大率扩大到8:1的变焦率(1x-8x),SMZ800N在易于使用的同时,还能提供在电子元件检测和故障分析任务中所必需的高清晰影像。
常规观察/摄影用体视显微镜 SMZ745T和SMZ745,具有7.5倍的高变焦比和115mm的超长工作距离,适合一般的工业用途。
常规观察用体视显微镜 SMZ445和SMZ460,对于常规或关键应用的生产质量控制功能、确定和预测故障模式的故障分析以及验证解决方案而言,都是理想的选择。
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